WD4000無圖晶圓檢測機：助力半導體行業高效生產的利器 
WD4000無圖晶圓檢測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。
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深圳市中圖儀器股份有限公司 ??? 2年前
一文讀懂半導體晶圓形貌厚度測量的意義與挑戰 
測量晶圓 WD4000無圖晶圓幾何量測系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，其測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。
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深圳市中圖儀器股份有限公司 ??? 2年前
白光干涉儀(光學3D表面輪廓儀)只能測同質材料嗎？ 
除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。
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深圳市中圖儀器股份有限公司 ??? 2年前
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