AEC-Q101標準是用于分立半導體器件的,標準全稱:Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors,基于分立半導體應力測試認證的失效機理,名字有點長,所以一般就叫“分立半導體的應力測試標準”。現在的Rev E版本是2021.03.01剛發布的最新版。
IGBT市場應用 新能源汽車IGBT市場規模4.功率器件車規級認證AEC-Q101標準是用于分立半導體器件的,標準全稱:Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors,基于分立半導體應力測試認證的失效機理,名字有點長,所以一般就叫“分立半導體的應力測試標準
AEC-Q101 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS:車用分立半導體元器件的基于失效機理的應力測試驗證本標準規定的分立半導體元器件的最小工作溫度范圍:-40℃~+125℃LED的最小工作溫度范圍-40℃~+85℃
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AEC-Q101認證AEC-Q101標準是用于分立半導體器件的,標準全稱:Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors,基于分立半導體應力測試認證的失效機理,名字有點長,所以一般就叫“分立半導體的應力測試標準”。現在的Rev E版本是2021.03.01剛發布的最新版。