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站在眼鏡設(shè)計(jì)者以及製造商的立場(chǎng)，較為關(guān)注的問(wèn)題會(huì)是能否使基本曲線設(shè)計(jì)近可能符合商業(yè)的需求 (例如美觀和成本) ，同時(shí)盡可能的考慮所有設(shè)計(jì)參數(shù)。當(dāng)然，成像品質(zhì)的改善和使用者視力的維護(hù)也必然是設(shè)計(jì)時(shí)不容忽視的考量。材料庫(kù)我們可以在附件的玻璃庫(kù)OPHTALMIC.AGF找到許多常用的眼科鏡片材料。請(qǐng)將該檔案複製到OpticStudio的材料庫(kù)資料夾((GLASSCAT)。

這個(gè)庫(kù)是免費(fèi)提供的，可以從 http://www.netlib.org/clapack/.4 下載From the beam waist and semi focal separation, a dimensionless ellipticity parameter may be calculated:根據(jù)束腰和半焦距，可以計(jì)算出無(wú)因次橢圓率參數(shù)：如 Bandres 和 Gutiérrez-Vega

一般的情況下，OpticStudio可以對(duì)大多數(shù)的鍍膜或雙折射材料進(jìn)行完整的分析。但有時(shí)因?yàn)榉诸?lèi)數(shù)據(jù)報(bào)告(Prescription data)不夠齊全，在進(jìn)行模擬時(shí)會(huì)需要簡(jiǎn)化後的模型。舉例而言，當(dāng)我們無(wú)法得到真實(shí)的鍍膜資訊時(shí)，OpticStudio中的理想(IDEAL)和表定(TABLE)鍍膜設(shè)定就可以派上用場(chǎng)。相似的，Jones Matrix可以在缺乏實(shí)際模型的情況下，用來(lái)表示偏振元件。

然後根據(jù)給定的相位設(shè)計(jì)微結(jié)構(gòu)。圖1顯示了該過(guò)程的流程圖。該圖表未涵蓋設(shè)計(jì)的詳細(xì)訊息，例如，微觀結(jié)構(gòu)可以是傳統(tǒng)的閃耀光柵或現(xiàn)代的超穎透鏡。所需的設(shè)計(jì)和製造方法可能會(huì)有所不同，具體取決於微結(jié)構(gòu)的類(lèi)型。參考文獻(xiàn)[5]顯示了根據(jù)給定的相位輪廓生成閃耀光柵的範(fàn)例。它還討論了單點(diǎn)金剛石車(chē)床的製造。可以在我們的知識(shí)庫(kù)文章中找到用於生成閃耀光柵的巨集:如何使用巨集計(jì)算繞射光學(xué)元件的垂度。

深度掃描也稱(chēng)為軸向掃描或A掃描，它根據(jù)反射到樣品中的距離來(lái)測(cè)量反射光的強(qiáng)度。 儘管它在OCT系統(tǒng)的類(lèi)型之間有所不同，但深度掃描通常由參考鏡執(zhí)行，以使樣品返回的光對(duì)應(yīng)於樣品和參考之間的特定光程差（OPD）。 透過(guò)以x或y方向旋轉(zhuǎn)掃描鏡來(lái)執(zhí)行橫向，橫向或b掃描，從而在整個(gè)樣品區(qū)域上平移探測(cè)光束。我們從商用OCT系統(tǒng)中獲取目標(biāo)規(guī)格。 軸向分辨率完全來(lái)自光源特性，應(yīng)在5μm的數(shù)量級(jí)上。

對(duì)於薄的全像，其他繞射階數(shù)的效率可能不為零，如-1 -2 +2 -3 +3 ...。這些額外階數(shù)不在耦合波理論的考慮中。 多重光柵 (multiplex): 全像中只能同時(shí)存在一組光柵。Kogelnik的方法不允許多於一個(gè)光柵重疊在一個(gè)區(qū)域。 雙折射材料: 全像的材料被認(rèn)為是均向性的。不允許使用雙折射材料。

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