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帖子 ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:如何在OpticStudio中設(shè)計(jì)DOE透鏡或超穎透鏡
沒有通用的方法可以所有情況。設(shè)計(jì)人員需要根據(jù)具體情況決定其系統(tǒng)的策略。許多設(shè)計(jì)過程需要兩種不同的光學(xué)論/算法來分別光束在自由空間和微結(jié)構(gòu)中的傳播,而其他一些過程僅使用純光線追跡來達(dá)到目標(biāo)。由於模擬技術(shù)發(fā)展迅速,因此本文可能沒有涵蓋所有可用方法。如果用戶提供新訊息或有任何要求,請(qǐng)隨時(shí)與我們聯(lián)繫,我們可以相應(yīng)地更新本文。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:如何在OpticStudio中設(shè)計(jì)DOE透鏡或超穎透鏡
帖子 Ansys Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)軟件技術(shù)教程:眼科鏡片設(shè)計(jì)
對(duì)於眼鏡的設(shè)計(jì)者而言,根據(jù)不同的人眼參數(shù)和視覺環(huán)境打造能產(chǎn)生最佳影像品質(zhì)的鏡片設(shè)計(jì)是十分具有挑戰(zhàn)性的。當(dāng)作者在澳洲Flinders大學(xué)教導(dǎo)視光學(xué) (Optometry)時(shí),時(shí)常要求學(xué)生以O(shè)pticStudio建構(gòu)一組特殊的鏡片,達(dá)成夜間、槍械狙擊鏡、辦公環(huán)境或者是孩童友善等各式不同的使用目的。同時(shí),非球面鏡參數(shù)和影像波前等數(shù)值也被列入評(píng)分的標(biāo)準(zhǔn)。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
Ansys Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)軟件技術(shù)教程:眼科鏡片設(shè)計(jì)
帖子 Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)技術(shù)教程:如何使用Jones Matrix表面
Jones Matrix根據(jù)下方的式子改變電場(chǎng)的Jones向量上式中的A, B, C, D皆為複數(shù)形式。在鏡頭數(shù)據(jù)編輯器(LDE)和非序列元件編輯器(Non-Sequential components editor),我們可以在Jones Matrix後方的欄位輸入各元素的實(shí)數(shù)及虛數(shù)部分,以定義不同的Jones Matrix。
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Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)技術(shù)教程:如何使用Jones Matrix表面
帖子 ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率
如果厚度從t到t'發(fā)生變化,則可以透過修改K∥計(jì)算新的光柵向量,如方程式(4)。圖 4. 當(dāng)全像材料收縮時(shí),厚度從t 減少到 t'。我們現(xiàn)在已經(jīng)介紹了體積全像圖模型的基礎(chǔ)知識(shí)。要了解有關(guān)如何在 OpticStudio 中應(yīng)用該論、如何設(shè)置序列和非序列系統(tǒng)以及下載範(fàn)例系統(tǒng)的更多信息,您可以在此取得本知識(shí)庫(kù)文章的全部?jī)?nèi)容。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率
帖子 ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:在 OpticStudio 中模擬高階雷射光束
這個(gè)庫(kù)是免費(fèi)提供的,可以從 http://www.netlib.org/clapack/.4 下載From the beam waist and semi focal separation, a dimensionless ellipticity parameter may be calculated:根據(jù)束腰和半焦距,可以計(jì)算無因次橢圓率參數(shù):如 Bandres 和 Gutiérrez-Vega
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ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:在 OpticStudio 中模擬高階雷射光束
帖子 ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:如何為光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)建模
深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描,它根據(jù)反射到樣品中的距離來測(cè)量反射光的強(qiáng)度。 儘管它在OCT系統(tǒng)的類型之間有所不同,但深度掃描通常由參考鏡執(zhí)行,以使樣品返回的光對(duì)應(yīng)於樣品和參考之間的特定光程差(OPD)。 透過以x或y方向旋轉(zhuǎn)掃描鏡來執(zhí)行橫向,橫向或b掃描,從而在整個(gè)樣品區(qū)域上平移探測(cè)光束。我們從商用OCT系統(tǒng)中獲取目標(biāo)規(guī)格。 軸向分辨率完全來自光源特性,應(yīng)在5μm的數(shù)量級(jí)上。
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