AIPOD是一款智能優(yōu)化平臺，具有先進(jìn)的智能優(yōu)化策略；主要用于目標(biāo)函數(shù)為數(shù)值模擬（如CAE）類的優(yōu)化問題，追求以更小的計(jì)算代價(jià)，更短的時(shí)間找到更優(yōu)的設(shè)計(jì)方案。

AIPOD特點(diǎn)

1) 具有優(yōu)秀的智能優(yōu)化算法，擁有較高的優(yōu)化效率；

2) 包括含代理和無代理多種優(yōu)化模式；

3) 支持多目標(biāo)優(yōu)化與多工況優(yōu)化；

4) 仿真求解器連接靈活，用戶使用簡便；

5) 具備DoE與后處理功能。

AIPOD界面演示

后處理界面

AIPOD優(yōu)化算法測試

AIPOD通用全局優(yōu)化算法測試，驗(yàn)證算法是否能夠滿足，在充分小的計(jì)算規(guī)模下，尋找到充分可取的優(yōu)解；測試函數(shù)如表1所示。

同時(shí)，對比測試選用的優(yōu)化算法和最大計(jì)算數(shù)目如下表所示；

1 單目標(biāo)值優(yōu)化

1.1 Shubert函數(shù)：

1.2 Griewank函數(shù)：

2 多目標(biāo)值優(yōu)化

ZDT1，2，3，4測試函數(shù)：

Pareto 前沿對比策略：

按照計(jì)算次序，每間隔1000個(gè)計(jì)算中獲取對應(yīng)的pareto前沿，觀察pareto前沿移動(dòng)的效率 。

ZDT1函數(shù)測試

ZDT2函數(shù)測試

ZDT3函數(shù)測試

ZDT4函數(shù)測試