Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用

【引言】

為了獲得具有高靈敏度和快速響應(yīng)的高性能光電探測(cè)器(PD),器件中的功能層需要具備高吸收系數(shù)、低陷阱態(tài)密度、足夠的擴(kuò)散長(zhǎng)度以及較高的載流子遷移率。目前,全無(wú)機(jī)鹵化物鈣鈦礦(HP)CsPbBr3單晶載流子擴(kuò)散速度較快,其載流子遷移率超過(guò)140 cm2·V-1·S-1,陷阱密度低至109 cm-3。基于上述單晶的PD顯示出高響應(yīng)度(R)和寬線性動(dòng)態(tài)范圍(LDR)。然而,CsPbBr3單晶的尺寸和厚度難以控制,其受到加工溫度、底層表面能、溶劑和前驅(qū)體復(fù)合物的極大影響,進(jìn)而延長(zhǎng)了傳輸時(shí)間并加劇了光電探測(cè)中的載流子復(fù)合。與單晶相比,溶液加工所得的多晶薄膜具有簡(jiǎn)單、可控以及可調(diào)節(jié)的特點(diǎn),在鈣鈦礦光電器件大規(guī)模制造和工業(yè)化中具有巨大潛力。但迄今為止,CsPbBr3多晶薄膜的質(zhì)量通常較差,其載流子遷移率低、缺陷密度高,以致器件性能較差。因此,利用溶液策略制備具有低陷阱態(tài)密度和高載流子遷移率的CsPbBr3多晶膜并將其應(yīng)用于高性能PD仍然存在著嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。

【成果簡(jiǎn)介】

近日,南京理工大學(xué)曾海波教授、李曉明教授、湖北大學(xué)王浩教授(共同通訊作者)等通過(guò)在有序聚苯乙烯球模板的間隙內(nèi)冷凍前體溶液的限域生長(zhǎng)策略克服了溶解度低和晶體快速生長(zhǎng)缺點(diǎn),所得致密CsPbBr3多晶薄膜在化學(xué)計(jì)量調(diào)節(jié)后具有低陷阱密度(3.07×1012 cm-3)和高載流子遷移率(9.27 cm2·V-1·s-1)。上述成果以題為“Space-Confined Growth of CsPbBr3 Film Achieving Photodetectors with High Performance in All Figures of Merit”的研究論文發(fā)表于Adv. Funct. Mater.。基于上述CsPbBr3薄膜的光電探測(cè)器在所有測(cè)試指標(biāo)中均表現(xiàn)出色。特別的,實(shí)現(xiàn)了高達(dá)216 A·W-1的高響應(yīng)度和超短響應(yīng)時(shí)間(<5 μs),相比所有CsPbBr3基光電探測(cè)器更好。還實(shí)現(xiàn)了7.55×1013檢測(cè)限以及-3 dB時(shí)帶寬3.1×105 Hz的記錄。該工作為高品質(zhì)全無(wú)機(jī)鹵素鈣鈦礦多晶薄膜打開(kāi)了大門,可將其擴(kuò)展應(yīng)用于更多光電器件,包括太陽(yáng)能電池、光電極和射線探測(cè)器。

【圖文簡(jiǎn)介】

圖1 CsPbBr3薄膜的制備及其形貌

Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用的圖1

a) CsPbBr3薄膜的傳統(tǒng)制備過(guò)程示意圖;
b) CsPbBr3薄膜的限域制備過(guò)程示意圖;
c) CsPbBr3 IO(inverse opal,反蛋白石)薄膜的大區(qū)域頂視SEM圖像。

圖2 傳統(tǒng)CsPbBr3薄膜和CsPbBr3 IO薄膜的結(jié)構(gòu)、電子性能比較

Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用的圖2

a) XRD圖譜;
b) 室溫下、石英基底上的PL光譜;
c) 黑暗下以及442 nm激光照射下的對(duì)數(shù)I–V曲線;
d) 偏壓1 V時(shí)的靈敏度光譜。

圖3 前驅(qū)體比例調(diào)控對(duì)結(jié)構(gòu)、光學(xué)及電子性質(zhì)的影響

Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用的圖3

a) XRD圖譜;
b) PL衰減曲線,內(nèi)插為PL光譜;
c) 石英基底上四種PbBr2:CsBr比例(0.8, 1.0, 1.2, 1.4)的CsPbBr3 IO薄膜的吸收光譜及相應(yīng)的Urbach能(內(nèi)插);
d) CsPbBr3 IO薄膜缺陷態(tài)密度和載流子遷移率隨PbBr2:CsBr比例的變化。

圖4 不同前驅(qū)體比例對(duì)CsPbBr3 IO薄膜光電探測(cè)性能的影響

Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用的圖4

a) 5 V 偏壓下開(kāi)關(guān)比隨PbBr2:CsBr比例的變化;
b) 根據(jù)光電流響應(yīng)曲線所得的響應(yīng)時(shí)間;
c) 5 V偏壓下的檢測(cè)限;
d) 計(jì)算所得靈敏度。

圖5 CsPbBr3 IO薄膜的實(shí)際應(yīng)用

Adv. Funct. Mater. : CsPbBr3薄膜限域生長(zhǎng)及其在高性能光電探測(cè)器中的應(yīng)用的圖5

a) 5 V偏壓下CsPbBr3 IO薄膜(PbBr2:CsBr = 1.2)光電探測(cè)器光電流隨功率的變化;
b) 1 V偏壓下器件的-3 dB帶寬。

【小結(jié)】

綜上所述,作者利用基于有序PS模板的限域生長(zhǎng)策略克服了由前驅(qū)體溶解度低引起的成膜問(wèn)題。CsPbBr3反蛋白石(IO)薄膜在限域生長(zhǎng)作用下,不僅具有優(yōu)異的吸收系數(shù),而且在晶粒、擇優(yōu)取向和薄膜密度方面也具有顯著的改善。特別的,具有優(yōu)化比例(PbBr2:CsBr = 1.2)的高度有序CsPbBr3 IO薄膜表現(xiàn)出低陷阱態(tài)密度(3.07×1012 cm-3)和高載流子遷移率(9.27 cm2·V-1·s-1),在全無(wú)機(jī)HP多晶薄膜中尚屬首例。基于CsPbBr3 IO膜的光電探測(cè)器具有216 A·W-1的高響應(yīng)度以及5 μs內(nèi)的短響應(yīng)時(shí)間。該工作證實(shí)了限域生長(zhǎng)策略有助于改善CsPbBr3薄膜質(zhì)量,所得薄膜在光電器件領(lǐng)域具有更多潛在的應(yīng)用。

文獻(xiàn)鏈接:Space-Confined Growth of CsPbBr3 Film Achieving Photodetectors with High Performance in All Figures of Merit (Adv. Funct. Mater., 2018, DOI: 10.1002/adfm.201804394)

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