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一款常見單元的Klippel Scanner計(jì)算得到的頻響曲線，AAL和Total SPL。

其Total SPL1k以后的谷位非常深，根本不像實(shí)際的產(chǎn)品。

另外以兩款環(huán)狀膜片壓縮高音為例進(jìn)行說明。

下面是測試方法圖示：

兩款不同壓縮高音，Klippel Scanner計(jì)算的頻響曲線如下：

其中藍(lán)色是Total SPL頻響，紅色是Scanner計(jì)算AAL頻響。

頻響曲線差異分析

和產(chǎn)品實(shí)測的頻響曲線對比來看，計(jì)算和實(shí)測頻響曲線存在一定差異。

首先，從測試方法來說

• 半透明材料的反射率是一個問題。

• 高頻段計(jì)算需要更密集的取點(diǎn)。
  

另外更重要的，從原理來考慮：

• 激光測試的膜片位移只是音圈運(yùn)動方向的位移。垂直音圈方向的位移并不能被測量。因而其高頻段的實(shí)際結(jié)構(gòu)振動與Scanner測試是存在一定差異的。

• 另外，從Scanner計(jì)算頻響的方式來說，是采用對每一點(diǎn)的聲壓貢獻(xiàn)進(jìn)行瑞利積分得到的。這種積分方式，相對于考慮聲傳播過程的方式(比如利用有限元方法求解)，會存在一定差異，尤其是在高頻段，因?yàn)闆]有考慮聲波傳遞過程。當(dāng)膜片較深時，差異會更大。所以深錐低音揚(yáng)聲器的高頻計(jì)算和實(shí)測差異會比較大。

• 通過模擬Scanner使用的積分方法和聲學(xué)波動有限元兩種計(jì)算方式，可以復(fù)現(xiàn)以上現(xiàn)象。

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