電力電子器件可靠性之熱設計交流會

libei115

2016年5月18日 13:51

尊敬的女士/先生：
電子技術日新月異的發展對船舶、航空、航天、通信、汽車、軍工等各行業都產生了極其深遠的影響。在電子系統設計中我們需特別關注其可靠性，而在影響電子產品可靠性的幾個關鍵問題中，散熱問題最為核心。基于此，為幫助高校及國內科研單位提升電子產品熱設計水平，海基科技將聯合Mentor Graphics公司共同舉辦“電力電子器件可靠性之熱設計交流會”，本次活動于2016年5月27日在北京開幕，誠邀您參加。
本次活動中，您將有機會與多位散熱專家共同探討熱仿真、熱測試相關話題；了解半導體器件的熱瞬態測試方法、半導體器件的功率循環及壽命預測、電子器件進行計算模型的校準等相關技術；并有機會親自參觀體驗先進的半導體器件熱特性測試儀器T3Ster。
報名請點擊：https://jinshuju.net/f/FqmKbg https://jinshuju.net/f/FqmKbg
專家介紹
Andras Vass-Varnai：布達佩斯技術與經濟大學電氣工程專業博士，2007年加入MicRed團隊，擔任歐盟資助的 NANOPACK 項目技術主管，開發出DynTIM產品。在工業級功率循環測試系統PWT1500A（Power Tester 1500A）的設計和推廣中有深刻研究。2015年榮升為高級產品經理負責熱測試的相關研究。他的主要研究領域包括電子設備的熱管理、熱瞬態測試的高級應用、TIM材料的屬性、高功率半導體器件的可靠性研究，在國際上發表相關文章30多篇。
許欽淳：博士，Mentor Graphics MAD（機械分析部）高級應用工程師，工作地點臺灣。2008年獲得臺灣淡江大學機械專業博士學位。研究方向為熱管理，擅長電子冷卻、熱管、兩相流和流體機械。在T3Ster熱瞬態測試設備和熱管理方面，擁有多年研究經驗。
羅曉川：碩士，海基科技熱設計工程師，具有多年電子散熱CFD仿真及測試經驗，負責熱設計相關咨詢項目及產品的技術支持，熟練使用FloTHERM\FloEFD \Fluent等電子熱設計軟件，T3Ster、PWT等熱瞬態測試工具。曾參與航天某院、中科院、匯川電機、中船重工、中電等機構的散熱咨詢項目，涉及范圍包括：含有芯片級、板級、系統級及環境級的設備在真空環境、液冷、自然對流、強迫對流等環境下的熱可靠性分析；芯片及散熱材料的熱測試。
時間：2016年5月27日
地點：北京
聯系人：趙女士
傳真：010-82324448
電話：010-82318880&608
郵箱：zhaoxm@hikeytech.com