德國Optris Xi 1M是一款專為工業環境設計的高性能短波紅外（SWIR）熱像儀。它突破了傳統長波紅外的限制，專門針對熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導體等“難以測量”的物體進行非接觸式表面溫度成像。憑借其緊湊堅固的設計和自主運行能力，Xi 1M能夠在無需額外硬件的情況下，為工業制造過程提供精確、可靠的熱數據。

核心技術優勢：為何選擇短波紅外？

在測量高溫光亮材料（如鋼、鐵、銅、半導體）時，傳統長波紅外熱像儀常因材料發射率低且不穩定而導致讀數偏差。Optris Xi 1M采用0.85–1.1 μm的短波紅外光譜設計，完美解決了這一痛點：

匹配金屬發射率：短波范圍與大多數金屬材料的高發射率區域相匹配，顯著提高了測量的準確性和重復性。

高輻射強度：根據普朗克輻射定律，高溫物體在短波段發射的紅外輻射顯著增加，這使得Xi 1M在測量450°C以上的高溫時，比長波設備更具優勢。

穿透氧化層干擾：在鍛造等工藝中，工件表面的氧化層往往掩蓋真實溫度，短波技術能更準確地捕捉表面實際溫度，減少誤差。

關鍵性能參數

寬廣的高溫量程：測量范圍覆蓋450°C至1800°C，且無需切換子量程，即可實現全量程的高精度測量。

高清熱成像：配備高動態CMOS探測器，分辨率為396 x 300像素，能夠捕捉細微的溫度分布差異。

卓越的光學性能：擁有極高的距離系數比（D:S），即使在遠距離也能精準鎖定小目標。

電動對焦：支持遠程電動對焦功能，用戶無需接觸設備即可精確調整焦距，極大提升了安裝和維護的便利性。

工業級連接與集成

Xi 1M專為工業物聯網（IIoT）和自動化控制設計，具備強大的連接性和自主運行能力：

多重接口：標配以太網（Ethernet）和USB接口，支持模擬輸出（0/4-20mA）及數字過程接口。

現場總線兼容：無縫集成至Ethernet/IP、Modbus TCP/IP、Profinet等工業現場總線系統，是OEM設備集成的理想選擇。

智能自主運行：具備“自動熱點查找”功能，可直接輸出模擬信號或報警，無需復雜的軟件編碼即可嵌入控制回路。

高級軟件支持：通過PIXConnect軟件，用戶可進行線掃描、圖像合并等高級分析，滿足研發和深度質量控制的需求。

堅固耐用，適應惡劣環境

該設備采用工業級防水、堅固外殼設計，專為嚴苛的制造環境打造。為了應對極端工況，Xi 1M還提供豐富的配件支持：

水冷外殼：可將工作環境溫度耐受度擴展至250°C。

空氣凈化裝置：有效防止灰塵和顆粒物附著鏡頭，確保在多塵、煙霧環境中持續獲得清晰圖像。

應用領域

冶金與鍛造：監控鋼材、鐵、黃銅、銅的加熱與冷卻過程。

半導體制造：精確測量晶圓等半導體材料的溫度分布。

陶瓷與碳加工：監測高溫燒結過程中的溫度均勻性。

質量控制與研發：用于生產線的實時熱監控及實驗室熱分析。