準直系統中鬼像效應的研究
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仿真技術的主要作用之一是提供一個平臺,以便在系統制造之前研究系統的性能,以便盡可能多地預防潛在的缺陷。雜散光是影響系統性能的最常見現象之一,雜散光可能有多個來源,其中包括系統中的內部偽反射。在這個用例中,我們分析了高Na激光二極管準直透鏡系統中這種反射的存在,我們模擬了產生的鬼像對探測場的影響(由主準直光束的干涉引起的同心環圖案和由雜散光產生的二次發散),并確定需要在透鏡系統的關鍵表面上涂上抗反射涂層。
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