制造顯示面板的主要挑戰之一是研究由工藝余量引起的主要因素，如CD余量，掩膜錯位和厚度變化。TRCX提供批量模擬和綜合結果，包括分布式計算環境中的寄生電容分析，以改善顯示器的電光特性并最大限度地減少缺陷。

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