光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用

光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖1

01/簡介

零波像差雙遠心物鏡以“視場全域波前畸變趨近于零、物像比例恒定”的特性,成為3D NAND、精密微納制造等場景的核心光學器件,但其對成像模型的維度適配性提出嚴苛要求。

二維矢量成像模型雖能滿足平面圖形的偏振態表征需求,卻因忽略深度方向光場耦合與厚掩模衍射效應,無法適配三維堆疊圖形的成像預測。三維矢量成像模型通過全空間矢量光場建模,可精準捕捉雙遠心光路下三維偏振演化與深度衍射規律,成為破解該瓶頸的關鍵。本文以零波像差雙遠心成像為視角,對比二維與三維矢量模型的適配性差異,重點聚焦三維模型的應用機理,為先進三維制程光刻精度提升提供理論支撐。


02/三維矢量成像模型在含相差物鏡中的應用

含像差物鏡下的模型差異

仿真條件與結果對比:

考慮投影物鏡F1視場點的波像差和偏振像差,對比二維與三維矢量成像模型的空間像相對強度分布差異,結果均為10-2量級。

光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖2

投影物鏡示意圖

光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖3

投影物鏡F1視場點波像差數據

仿真條件一(45nm線寬一維PSM掩模、X偏振照明):最大絕對差值1.3x10-2、平均絕對值差8.4x10-3、差值均方根9.4x10-3

光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖4

二維和三維矢量成像模型仿真結果的差異

仿真條件二(接觸孔掩模、Y偏振照明):最大絕對差值5.0x10-2、平均絕對值差2.8x10-2、差值均方根3.2x10-2

光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖5

二維和三維矢量成像模型仿真結果的差異

結論:在成像物鏡為存在像差的非理想系統時,三維矢量成像模型較二維矢量成像模型預測成像特性更精確。


特殊場景的模型差異

在某些仿真條件下(如特定偏振與掩模組合),兩模型差異可低至10-5量級(最大絕對差值1.7x10-4、平均絕對值差5.3x10-5、差值均方根7.9x10-5),但此類場景不影響“含像差時三維模型更精確”的核心結論。


仿真條件:采用L&S 掩模,中心點光源偏振照明。物鏡 F1視場點的波像差和偏振像差,仿真像面y=0的相對強度分布。


在上述仿真條件下,利用三維矢量成像模型計算空間像的相對強度分布,并與二維矢量成像模型計算的空間像相對強度分布對比。二維和三維矢量成像模型仿真結果的差異如圖所示。


光刻技術第9期 | 二維與三維矢量成像模型對比-含相差物鏡的應用的圖6

二維和三維矢量成像模型仿真結果的差異

結論:在某些仿真條件下,兩模型仿真結果差異并不明顯。


03/先進技術與未來發展方向

針對球差、彗差及偏振像差等,構建“像差-矢量光場-深度衍射”耦合模型,采用瓊斯矩陣與澤尼克多項式聯合表征像差介導的偏振演化,結合嚴格耦合波分析(RCWA)精準計算厚掩模衍射,14nm節點三維圖形CD預測誤差可以≤3.5nm;開發像差權重動態分配算法,聚焦高影響像差區域優化,通過光源-掩模-像差協同調控,可以將像差導致的CD偏差從15nm降至4nm。

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