奧林巴斯推出的BX61WI和BX51WI系列載物臺固定式顯微鏡，專為高精度的材料分析和動態信號檢測設計。這兩款設備以其卓越的穩定性、針對液體環境優化的光學元件以及創新的設計理念，在材料研究領域展現了極高的應用價值。

主要特點

固定平臺設計：BX61WI和BX51WI采用了固定平臺概念，確保在進行精密數據采集時的高度穩定性和可靠性。該設計避免了不必要的移動帶來的誤差，提升了實驗結果的準確性。

抗振結構：為了減少外界振動對實驗的影響，這兩款顯微鏡配備了專門的抗振結構設計。這種設計不僅保護了敏感樣本，還提供了厚層材料深穿透檢測的能力，適合于復雜樣品的微觀結構分析。

紅外光運用：BX61WI和BX51WI支持使用紅外光，有效降低了對樣品的損傷風險，同時增強了深層結構觀察的清晰度。這對于需要深入材料內部進行分析的應用場景尤為重要。

高數值孔徑（NA）光學組件：這兩款設備采用高NA值的光學組件，實現了倍率切換無需更換鏡頭的功能，簡化了操作流程并提高了工作效率。

設計亮點

前端控制系統：簡潔直觀的前端控制界面使得操作更加簡便快捷，減少了實驗過程中可能出現的干擾，并保持了低噪音水平，有利于精確的數據采集。

便捷調節設計：聚焦組件四周留有足夠的空間，便于快速調整對比度、更換濾鏡或切換不同類型的光源，極大地提升了實驗配置的靈活性。

精準控制機構：位于設備主體兩側前端的微調控制旋鈕以及可準確定位的粗調旋鈕，增加了使用的便利性，確保每次操作都能達到預期效果。

鏡頭轉換器選項

BX61WI/BX51WI系列提供多種鏡頭轉換器選擇，如擺動式轉換器WI-SRE3和滑出式轉換器U-SLRE，適應不同的實驗需求。特別是對于小型裝置測試，通過增加間隙距離，可以實現更多樣化的實驗設置。

功能與解決方案

用于小型裝置測試的可調節結構：BX61WI/BX51WI系列能夠通過抬升裝置增加工作空間，適應更復雜的實驗配置，滿足多樣化的研究需求。

防護措施：配備防護板以防止液體滲入對設備造成損害，維護系統的長期安全運行。

超高清晰度的IR-DIC檢測能力：這些設備優化了從可見光到近紅外光（775 nm和900 nm）下的光學性能，提供了高清晰度的數據采集能力，適用于材料微觀結構的精細分析。

奧林巴斯BX61WI/BX51WI系列產品憑借其先進的設計理念和技術優勢，為用戶提供了一個強大而靈活的研究平臺，無論是進行基礎物理分析還是高級信號處理研究，都能夠提供強有力的支持和技術保障。