Abaqus Anand UMTA 腳本,用于芯片焊點壽命評估

在先進封裝如BGA、WLCSP、SiP與3D集成中,焊點長期經(jīng)受芯片功耗發(fā)熱與外部環(huán)境溫差的交替作用,其微觀組織不斷經(jīng)歷熱脹冷縮和蠕變松弛。由于芯片(Si)、基板(BT/FR-4/陶瓷)與焊料(SnAgCu)之間存在顯著熱膨脹系數(shù)差異,反復的熱應力和剪切應力會在焊點頸部和角部區(qū)域集中,促使疲勞裂紋逐步萌生并向內(nèi)部擴展,最終導致虛焊或開路等失效形式。傳統(tǒng)的壽命預測多依賴經(jīng)驗曲線和統(tǒng)計公式,但在新材料體系、更復雜的器件結(jié)構(gòu)以及多變工況下往往適用性不足。因此,行業(yè)逐漸轉(zhuǎn)向機理驅(qū)動的數(shù)值模擬:利用Abaqus平臺構(gòu)建器件有限元模型,通過用戶子程序UMAT嵌入焊料真實的黏塑-蠕變本構(gòu)行為,并結(jié)合ΔW(非彈性能量密度)、Δε(應變幅)等物理量作為壽命驅(qū)動參量,借助 Darveaux、Engelmaier或Coffin–Manson等壽命律建立“循環(huán)響應—失效壽命”的映射關系。這一方法不僅能揭示失效機理,還能在設計階段預測壽命分布,為結(jié)構(gòu)優(yōu)化與可靠性提升提供科學依據(jù)。

Abaqus Anand UMTA 腳本,用于芯片焊點壽命評估的圖1

偽代碼:

SUBROUTINE UMAT(STRESS,STATEV,DDSDDE,SSE,SPD,SCD, &

RPL,DDSDDT,DRPLDE,DRPLDT,STRAN,DSTRAN,TIME,DTIME, &

TEMP,DTEMP,PREDEF,DPRED,CMNAME,NDI,NSHR,NTENS,NSTATV, &

PROPS,NPROPS,COORDS,DROT,PNEWDT,CELENT,DFGRD0,DFGRD1, &

NOEL,NPT,LAYER,KSPT,KSTEP,KINC)

INCLUDE 'ABA_PARAM.INC'

for each integration point K in block:

 # 0) 初始化/讀入

 if STATEV(1,K) <= 0: STATEV(1,K) = s0

 s   = STATEV(1,K)      # 內(nèi)部抗力

 peeq = STATEV(2,K)      # 等效黏塑應變

 wpl = STATEV(3,K)      # 累積非彈性能量

 T = max(TINY, TEMP(K))

 Arr = exp( - (Q/R) / T )

 

 # 1) 彈性常數(shù) + 彈性預測 (small strain, Δε = STRAIN(:,K))

 compute Lame( E, ν ) -> (LAM, MU)

 build elastic C(LAM, MU)

 sig_tr = sigma_old + C : dE

 

 # 2) 計算偏應力 & Mises 等效應力

 sdev  = deviator(sig_tr)

 seq   = sqrt( (3/2) * sdev:sdev ) * sqrt(2/3)   # 注:代碼等價實現(xiàn)

 

 # 3) Anand 流動律(黏塑率):

 arg = ξ * seq / max(s, 1e-6)

 shn = sinh(arg) (小參數(shù)用線性近似)

 epdot = A * Arr * ( max(shn,0) )^(1/m)

 dep_eq = epdot * Δt

 

 # 4) 塑性方向 N 與塑性應變增量

 if seq > tiny: N = (3/2) * sdev / seq else N = 0

 dEp = dep_eq * N

 

 # 5) 應力修正(顯式回代)

 sigma = sig_tr - 2*MU * dEp

 

 # 6) 抗力演化 s(前向歐拉)

 sstar = ? * ( max(epdot,tiny) / (A*Arr) )^(1/n)

 sdot = h0*Arr*( 1 - s/max(sstar,tiny) ) * ( max(|epdot|,tiny) )^a

 s    = max( s + sdot*Δt, 1e-6 )

 

 # 7) 更新等效黏塑應變 & 累積能量

 peeq += dep_eq

 sig_avg = 0.5*(sig_tr + sigma)

 dW = sig_avg : dEp

 if dW > 0: wpl += dW

 

 # 8) 寫回狀態(tài)/輸出

 STRESS(:,K)  = sigma

 STATEV(1..3,K)= [s, peeq, wpl]

 ENERGY(2,K)  = wpl

end for

 

 RETURN

END SUBROUTINE UMAT

Abaqus Anand UMTA 腳本,用于芯片焊點壽命評估的圖2

Anand UMAT 實現(xiàn)流程示意圖

以下內(nèi)容為付費內(nèi)容,請購買后觀看

包含1個文件

Abaqus UMAT Anand 腳本程序

umatANANDMODEL.for
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