摘要

受激發射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術，以實現在生物應用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發射和損耗以及利用由此產生的飽和效應，與通常的顯微鏡技術(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為了模擬飽和效應，在焦點區域采用等效孔徑。

任務說明

多重光源

螺旋相位板

探測器插件

參數運行

為了實現焦點區域的z-掃描，可以執行參數運行。使用此工具，用戶可以輕松改變整個光學系統的單個參數或一組參數。有關詳細信息，請參閱：

Usage of the Parameter Run Document

非時序建模

將通道配置模式切換設置為Manual Configuration后，用戶可以為系統中的每個表面指定為模擬打開哪些通道。運行模擬時，將對活動光路進行初步分析（通過所謂的Light Path Finder）。然后引擎將沿著這些光路將場追蹤到系統中存在的探測器。

Channel Setting for Non-Sequential Tracing

總結 – 組件…

系統觀感

發射&損耗激光

光在焦點區域中的傳播表明，來自損耗激光的光會產生環形光斑，其中中心孔徑小于發射激光的焦斑。由于兩個光束在目標上的熒光過程中競爭，這導致信號激光的有效光束尺寸更小。

3D STED 輪廓

注意：由于這個簡化的例子不包括實際的熒光效應，我們為了可視化目的對兩個激光束進行了歸一化。

受激發射損耗效應  

為了近似飽和損耗的影響，我們在焦點位置對發射激光的結果應用了孔徑效應。孔徑的參數大致基于損耗激光的焦點輪廓（600nm 直徑，25% 邊緣）。通過系統傳播回探測器平面表明，由于這個過程，光斑變得非常小。

VirtualLab Fusion 技術

文件信息

進一步閱讀

? Simulation of Multiple Light Source in VLF

? Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy

市場圖片