摘要

建模結(jié)果與測量數(shù)據(jù)的比較對于任何光學元件的設(shè)計過程都非常重要。因此，有必要將測量到的高度剖面（例如微結(jié)構(gòu)的高度剖面）導入建模軟件，以評估真實元件的性能。因此，在本文檔中，我們將展示如何使用位圖文件導入高度數(shù)據(jù)。

簡介

步驟 1

- 使用Import功能將位圖圖像文件作為Data Array導入。

步驟 2

- 設(shè)置數(shù)據(jù)陣列的坐標、插值和外推法。

步驟 3

- 設(shè)置數(shù)據(jù)陣列的物理屬性。由于默認的長度單位是米，因此一定要指定一個合適的系數(shù)來表示微結(jié)構(gòu)的高度。

步驟 4

- 檢查導入數(shù)據(jù)陣列的高度值，并通過Manipulation菜單進行調(diào)整（例如，應(yīng)用常數(shù)乘法）。

步驟 5

- 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack

步驟 6

- 將導入的數(shù)據(jù)陣列加載到采樣界面

步驟 7 .

- 將堆棧的擴展設(shè)置為 DOE 的大小

步驟 8

- 如果需要，增加 TEA 算法的采樣系數(shù)

導入的 DOE 的 3D 視圖

使用導入 DOE 創(chuàng)建的衍射光束分束器

我們使用導入的 DOE 構(gòu)建衍射光束分束器。緊跟在 DOE 之后的相位輪廓反映了從 DOE 加載的高度輪廓。從遠場圖片中，我們可以觀察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。這可以通過調(diào)整折射率等參數(shù)進一步優(yōu)化。

文件信息