VirtualLab:非傍軸衍射分束器的設(shè)計與嚴格分析
摘要
非傍軸衍射光束分束器的直接設(shè)計仍然是一個挑戰(zhàn)。由于衍射角度相當大,元件的特征尺寸與光的波長相近。因此,通常使用的傍軸建模方法變得不準確,需要嚴格的技術(shù)。因此,在這個例子中,迭代傅里葉變換算法(IFTA)和薄元件近似(TEA)被用于衍射光學(xué)元件(DOE)的初步設(shè)計,并且之后使用傅里葉模式方法(FMM)也稱為嚴格耦合波分析(RCWA)進行嚴格的性能評估,包括在高度變化的情況下對優(yōu)點函數(shù)變化的研究。
任務(wù)
? 使用傍軸近似(TEA)進行衍射1:7×7光束分束器的初步設(shè)計,用于結(jié)構(gòu)設(shè)計部分。
? 使用嚴格分析(FMM/RCWA)對性能進行分析和進一步優(yōu)化,以提高均勻性并評估零階的影響。
模擬與設(shè)置:工具簡介與整體流程概覽
連接建模技術(shù):衍射光束分束器
通過配置助手和IFTA進行相位設(shè)計
將傳輸函數(shù)轉(zhuǎn)化為結(jié)構(gòu)
衍射光束分束器表面
衍射光束求解器 - TEA & FMM
光柵級數(shù) & 可編程光柵分析器
設(shè)計與評估結(jié)果:
? 相位函數(shù)設(shè)計
? 結(jié)構(gòu)設(shè)計
? TEA 評估
? FMM 評估
? 高度縮放檢查(用于優(yōu)化/容限)
僅相位傳輸設(shè)計
結(jié)構(gòu)設(shè)計
使用TEA進行性能評估
使用FMM進行性能評估
進一步的分析(優(yōu)化后,容差分析)
進一步優(yōu)化 - 調(diào)整設(shè)計#1的零階
進一步優(yōu)化 - 調(diào)整設(shè)計#2的零階
進一步優(yōu)化 - 調(diào)整設(shè)計#3的零階
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