CINNO Research產業資訊，據了解，韓國主要電子廠商今年初首次訂購了AFM(原子顯微鏡)設備，用于可穿戴設備的LEDoS(LED on silicon)開發。

AFM是一種可分析到納米級的測量技術。AFM設備以往用來檢測大尺寸面板的樣品，預計今年起也能為加快韓國Micro Display的開發做出貢獻。

根據韓媒Zdnet Korea報道，據業界4月23日消息，韓國主要電子廠商為開發OELDiS，計劃今年下半年引進AFM設備。

按應用技術劃分的Micro Display面板結構(來源：三星顯示)

OLEDoS是繼OLED之后的新一代顯示，被備受矚目的Micro Display(微型顯示)的種類之一。Micro Display是指在1英寸(2.54厘米)左右的小尺寸上，具有數千PPI(每英寸像素數)級別的高像素密度的超高分辨率顯示的統稱。

OLEDoS的獨特之處在于，它采用無機物發光二極管（LED）蒸鍍在硅基板上，而非傳統的玻璃基板。硅基板相較于玻璃基板，其電路中的電子移動速度更快，因此有助于提升面板的響應速度，實現更為清晰細膩的畫質。

然而，隨著基板材料的改變以及像素密度的不斷提升，OLEDoS的開發難度也相應增大。目前，除了良品率管理的問題外，可穿戴設備所要求的高亮度面板實現也面臨著諸多挑戰。

為了應對這些挑戰，韓國的主要電子廠商在今年初紛紛訂購了AFM設備，并計劃將其安裝在OLEDoS面板的研發產線上。這一舉措是對AR（增強現實）、XR（擴展現實）等可穿戴設備用面板開發的重要投資。預計該設備將在今年下半年中完成安裝。

AFM設備以其獨特的測量方式脫穎而出，其探針能夠以原子為單位接近樣品表面，并通過與表面之間的相互作用來精確測量樣品。與傳統的電子顯微鏡（SEM）相比，AFM能夠實現數納米（nm）級別的極高精度測量。

過去，AFM主要被用于測量韓國主要顯示廠商生產的大尺寸面板樣品的粗糙度、段差等參數。然而，今年首次為OLEDoS產線引入了AFM設備，逐漸拓展了在微型顯示領域的應用。

顯示行業的相關人士表示：“LEDoS、OLEDoS等Micro Display的開發難度超出了最初的預期，因此對精密測量的需求也在持續上升。”他們進一步指出：“對于LEDoS而言，要達到至少3000PPI的面板檢查標準，采用AFM設備是不可或缺的。”