Moldex3D模流分析之芯片封裝基本步驟
功能導(dǎo)覽 (Function Overview)
Moldex3D芯片封裝模塊,能協(xié)助設(shè)計師分析不同的芯片封裝成型制程。
在轉(zhuǎn)注成型分析 (Transfer Molding) 與成型底部填膠分析 (Molded Underfill) 中,Moldex3D芯片封裝成型模塊能分析空洞、縫合線、熱固性塑料的硬化率、流動型式及轉(zhuǎn)化率;透過后處理結(jié)果,能檢測翹曲、金線偏移及導(dǎo)線架偏移的現(xiàn)象。
在壓縮成型分析 (Compression Molding)/嵌入式晶圓級封裝分析 (Embedded Wafer Level Package)/非流動性底部填膠分析 (No Flow Underfill)/非導(dǎo)電性黏著分析 (Non Conductive Paste)中,Moldex3D芯片封裝成型模塊能分析空洞、縫合線及流動型式。
在毛細(xì)底部填膠分析 (Capillary Underfill) 中,能模擬毛細(xì)流動 (底膠材料受到的表面張力與底膠間接觸角的影響)、凸塊及填膠過程的基板。Moldex3D模擬真實的填膠過程步驟,預(yù)測可能產(chǎn)生的空洞位置。
注意:Moldex3D芯片封裝成型模塊支持solid與eDesign (僅轉(zhuǎn)注成型) 網(wǎng)格模型。
Moldex3D芯片封裝成型的應(yīng)用
基本步驟 (Basic Procedures)
Moldex3D芯片封裝成型模塊支持不同的芯片封裝成型分析:轉(zhuǎn)注成型分析、毛細(xì)底部填膠分析、成型底部填膠分析、壓縮成型分析、嵌入式晶圓級封裝分析,以及非流動性底部填膠分析/非導(dǎo)電性黏著分析。在Moldex3D開始使用時,點擊新增來創(chuàng)建新的芯片封裝項目或開啟來使用既有的。請注意要將制程類型設(shè)為芯片封裝來啟用相關(guān)功能。
以下將列出芯片封裝成型的一般步驟,將分為三個階段:準(zhǔn)備模型、分析設(shè)定及后處理。如圖所示,其個別流程也詳列在圖中,此外,紅色字體的步驟應(yīng)不同模塊將會不同,詳細(xì)內(nèi)容將分別在各章節(jié)中介紹。
生產(chǎn)模擬
- 準(zhǔn)備模型
步驟1:建模
?匯入模型 & 屬性設(shè)定 & 邊界設(shè)定:基于不同模塊,所需的邊界和屬性設(shè)定也不同。將各自介紹于在各模塊章節(jié)中。
o導(dǎo)線架 (Leadframe)
o金線 (Wire)
?流道系統(tǒng)建立
?冷卻/加熱系統(tǒng)建立
?實體網(wǎng)格建立
?確認(rèn)網(wǎng)格
- 準(zhǔn)備分析
步驟2:建立新項目。
步驟3:建立新組別。
步驟4:成型條件設(shè)定。因應(yīng)成型模塊的不同,成行條件設(shè)定界面也略有不同。這些差異將會分別于各章節(jié)中介紹。
步驟5:計算參數(shù)設(shè)定。除了一般填膠和熟化的設(shè)定頁面,"封裝" 和 "后熟化" 是重要的設(shè)定頁面,用戶可以設(shè)定導(dǎo)線架邊界和選擇計算引擎。另外,壓縮成型的預(yù)填料設(shè)定也同樣在此頁面。
步驟6:執(zhí)行分析。在分析順序的下拉式選單中,選擇完整分析并點擊現(xiàn)在執(zhí)行。任務(wù)管理器將會啟動以顯示實時的計算狀態(tài)。
- 后處理
在分析結(jié)束后,從分析結(jié)果中偵測潛在問題。使用 "報表生成程序" 產(chǎn)生報告。以下詳列封裝分析步驟。
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