Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷

常見的金線材料則包含金、銅、鋁等等,由于金線的管徑細(xì)小,因此金線缺陷往往是芯片封裝制程最重要的挑戰(zhàn)之一,而金線缺陷包括金線偏移、斷裂以及交叉。而為了確保良率及提升性能,封裝制程廣泛使用多種類的線料。以下將說明如何透過Moldex3D IC封裝模塊,進(jìn)行多種金線材料定義的偏移分析。

金線材料設(shè)定

步驟1:在Moldex3D網(wǎng)格前處理,用戶可產(chǎn)生芯片組件實(shí)體網(wǎng)格并設(shè)定金線,接著檢查圖層:SRMI$為芯片封裝實(shí)體網(wǎng)格圖層,WL$PF1為金線圖層。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖1

步驟2:點(diǎn)選 Wire Material Setting,并按照提示欄顯示的訊息操作。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖2

選擇曲線后,按下Enter。使用者可命名并指定金線材料群組的顏色。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖3

步驟3:輸出項目分析用網(wǎng)格檔,并開啟Moldex3D Studio 建立新的項目。

步驟4:新增分析組別并指定不同群組的金線材料,并開啟下拉選單并點(diǎn)選材料精靈,開啟Moldex3D 材料精靈 

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖4

挑選材料并以右鍵點(diǎn)選加入項目,點(diǎn)選所需材料后,關(guān)閉材料精靈。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖5

用戶可下拉選取窗口個別指定金線的材料。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖6

步驟5:確認(rèn)顯示窗口中的材料信息。

Moldex3D模流分析之個別指定金線材料預(yù)測芯片封裝缺陷的圖7

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