萌新筆記——CST(一)
正文
基于CST-FEKO的電大尺寸復雜陣列天線+電大尺寸載體的一體化仿真的途徑大致如下:1)使用CST進行天線單元的設計與仿真;2)利用CST的陣列天線仿真模塊,建模陣列天線并進行仿真;3)以陣列天線波束指向角為參量,進行波束掃描仿真,并保存過程文件;4)在CST中導出所有掃描角狀態下的近場數據;5)按照FEKO近場數據格式,對CST近場數據進行修改;6)FEKO調用修改后的近場數據,進行近場+電大尺寸載體的電性能仿真。
STEP1
天線單元設計與仿真,可以直接在CST進行設計和優化,亦可以在HFSS開展設計與優化,并將優化后的模型導入CST。
按照天線單元原本的材料屬性,完成材料設置、工作頻率、邊界條件、監視器等,便可以進行天線單元的仿真。
天線單元的方向圖性能以及匹配性能滿足要求,即可開展陣列建模工作。
STEP2
1)在Hone-Simulation Project中選擇ArrayTask:
2)在shape中選擇陣列排布的形式,CST提供Diamond(菱形)、Hexagon(六邊形)、Circle(圓形)、Ellipse(橢圓形)等多種排布形式的選擇,在Element in X(或Y)中設定X(或Y)方向單元數量,在Spacing in X(或Y)設定單元在X(或Y)方向間距。此外,CST支持導入.TSV格式文件進行天線陣列自定義排布:
3)在Array視圖中,CST支持將任意天線單元設置為Active(有模型,有激勵)、Passive(有模型、無激勵)、Empty(無模型、無激勵):
4)在Array視圖中,設置相控陣天線激勵模式,CST支持Uniform(一致分布)、Binomial(二項式分布)、Cosine(余弦分布)、Chebyshev(切比雪夫分布)、Taylor(泰勒分布)以及User Difined(自定義分布)。這屬于天線分析與綜合方面的內容,想要進步了解的可以參考陣列天線相關內容:
通常使用Taylor分布進行綜合設計,Relative Sidelobe level (旁瓣電平)設置為-30dB(按實際要求),在Amplitude View 可以查看設置后各個單元激勵的幅度。在Array視圖中單擊Creation Full Simulation Project,自動完成全尺寸大規模相控陣快速建模;
5)在全尺寸仿真模型中,通過設置PAA_FA_SCANOHI(方位面掃描角)和PAA_FA_SCANTHETA(俯仰面掃描角)兩個參變量,可以改變相控陣的掃描角度,CST自動改變每個天線單元的相位。在Simulation視圖中,單擊Field Monitor,選擇E-Field和H-Field分別添加電場和磁場監視器,并通過X_min、X_max、Z_Pos等設置確定場監視器的觀察范圍:(補充仿真結果,圖片完善)
STEP3
設置參數掃描,以PAA_FA_SCANTHETA為變量進行掃描。即可以仿真不同泊位的方向圖。
掃參結束后,可以對比查看每一個波位一維仿真結果(如方向圖曲線、S參數等)。使用結果瀏覽框,可以選定任意掃參下的方向圖一維計算結果進行查看。
對于2D/3D近場數據,則只保存最后一個狀態的仿真結果。
后續需要提取每一個波位的近場數據,用以與目標載體一體化仿真,因此,可以在計算設置中,勾選“store resault data in cache”,即可保存每一個波位的所有仿真數據。
在“SP—>陣列名稱—>結果—>Cache”,可以查看每一個掃參的過程文件,可以打開相應文件,將對應波位下的近場數據(電場/磁場)結果導出。
該方法可以提取每一個波位的近場數據,但是內存占用會非常大,需要對仿真后數據進行及時清理。
另外需要說明:文件退出再次進入后,會發現只有單元模型,此時陣列模型可以通過單元文件中Schematic,雙擊左側模型樹里的Tasks—>Array,打開相應的陣列文件。
STEP4
近場仿真結果導出:Post-Processing—>Export—>Plot Data,按照采樣點間隔的要求,導出口徑上電場/磁場的仿真結果。
導出的近場數據如圖所示,基本格式為:采樣點坐標+采樣點三分量實部/虛部數據。其與FEKO所需要的近場數據形式基本一致。所不同的就是FEKO近場數據包含了數據說明的頭文件以及具體數據的格式略有差異,稍加改動即可。
STEP5
按照FEKO近場文件的格式要求,使用簡單的代碼,對CST導出的近場數據(電場、磁場)進行格式調整。
clc;clear all;
%% 數據讀取
path='E:\0_桌面文檔\shiyan\patch\SP\hfe.txt'; %近場數據位置
fid=fopen(path,'r');
% 平移量
tx = -47;
ty = -31.8;
tz = 0;
% 平移變換矩陣
T = [1 0 0 tx; 0 1 0 ty; 0 0 1 tz; 0 0 0 1];
for t=1:2 %跳過開頭文件說明
Emag=fgetl(fid);
end
formatspace='%f %f %f %f %f %f %f %f %f ';
a=fscanf(fid,formatspace); %數據讀取
a=reshape(a,[9,length(a)/9]); %調整維度
b=[a(1:3,:);ones(1,length(a))]; %將口徑平移至相應位置
b=T*b;
a(1:3,:)=0.001*b(1:3,:);
%% 調整格式
fileID=fopen('nearfield.hfe','w'); %新建近場文件,存放調整完格式的數據
fprintf(fileID,'%9.8E %9.8E %9.8E %9.8E %9.8E %9.8E %9.8E %9.8E %9.8E\n ',a); %按格式要求,將數據寫入近場文件
fclose all; %關閉所有文件
按照工作頻率、采樣點數目等信息,將近場數據的抬頭說明部分補全。
STEP6
將格式修改后的近場源數據,通過如下步驟導入FEKO,即可開展等效源的性能仿真。
基于導出的近場數據,使用FEKO計算的遠場方向圖與CST中天線全波仿真結果進行對比,可以發現:基本趨勢以及主波束增益大小基本一致,但是由于近場口徑不是一個封閉的曲面,因此總有漏波,兩個之間在細節方面(尤其是大角度方向圖)還是有所差異。
將電大載體導入FEKO,即可開展“近場等效源+電大載體”的一體化仿真,本案列受限于個人計算機的“算力”,僅以簡單球作為載體,作為示意,仿真結果如下。
總結
本文基于CST-FEKO聯合仿真策略,介紹了復雜結構陣列天線+電大尺寸目標的一體化仿真方法,同時作為CST學習的萌新筆記,據此介紹CST學習資源和學習策略。
文章來源電磁CAEer
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