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近場掃描儀是一種利用電磁場探頭對集成電路板、IC芯片等器件或整機產品電磁場測繪的工具,通過逐點測試可以得到區域內的電場、磁場大小分布圖,可用于分析電磁干擾問題。本文利用HFSS仿真工具,在軟件中模擬芯片近場掃描。
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01
近場掃描儀
近場掃描儀是一種利用電磁場探頭對集成電路板、IC芯片等器件或整機產品電磁場測繪的工具,通過逐點測試可以得到區域內的電場、磁場大小分布圖,可用于分析電磁干擾問題;
02
HFSS建模
在HFSS中導入一個封裝基板文件,選擇其中一組差分走線添加Port;

在靠近基板上方一定距離的位置繪制一個sheet,用于后面Plot Fields(當然,這一步放在仿真結束后也可以);

設置若干個頻點,并√ 3D Fields Save;

03
電路時域激勵
新建Circuit仿真,將HFSS工程添加至電路中,給端口加上更貼近實際的時域激勵波形;

完成Circuit+HFSS聯合仿真,得到電路時域仿真結果;


04
近場結果
在Circuit仿真結束后,即可將時域的仿真結果Push至HFSS工程中;

選中前面繪制的sheet,Create Field Plot;

以下,通過仿真得到基板上該組差分走線傳輸PRBS信號時,在芯片上方附近產生的電場分布圖;

可以看到,由于在Circuit中的激勵是由BGA向Chip傳輸,因此在任意頻點下,最大場強始終在BGA上方
附近;
此外,激勵信號在各頻點上的幅度大小,最終也反映在電場分布圖上,幅值越高對應產生的場強也越大。
文章來源:電磁學社