基于特殊Epsilon微腔的定向輻射冷卻
背景介紹
黑體輻射具有高度不對(duì)稱的連續(xù)光譜,完全依賴于表面溫度,導(dǎo)致在頻率或動(dòng)量域塑造熱發(fā)射光譜一度被認(rèn)為是難以捉摸的任務(wù)。納米光子學(xué)的進(jìn)步,使熱發(fā)射在動(dòng)量域和頻率域的調(diào)節(jié)成為可能。由于設(shè)計(jì)原理的復(fù)雜性,角度選擇熱發(fā)射比波長選擇熱發(fā)射更具挑戰(zhàn)性。早期試圖將熱發(fā)射轉(zhuǎn)向某一方向的嘗試僅限于窄光譜或特定極化,導(dǎo)致當(dāng)在整個(gè)光譜中平均時(shí),它們的角選擇性變得適中,因此它們的平均(8?14 μm)發(fā)射率(εave)和角選擇性是名義的。因此尚未報(bào)道實(shí)質(zhì)性的定向輻射冷卻效應(yīng)。此外,定向熱發(fā)射器或輻射冷卻器的實(shí)際用途仍然不清楚。
02
圖1 氧化物基熱輻射器。(a ~ f) 模擬氧化物/金屬膜(a、b)、獨(dú)立氧化膜(c、d)和微結(jié)構(gòu)獨(dú)立氧化膜(e、f)的能量-動(dòng)量色散和電磁能量分布。
圖2 SiO2/AlOX雙殼中空微腔的設(shè)計(jì)與制備。
圖3 測量和模擬能量-動(dòng)量色散。
圖4 熱舒適和輻射冷卻實(shí)驗(yàn)。(a,b)熱舒適實(shí)驗(yàn)。(a)實(shí)驗(yàn)裝置示意圖。每個(gè)樣品(即SiO2/AlOX (100/100 nm)雙殼HMs和碳帶涂覆Si)連接到100°C的電加熱器上。(b) ΔT值的時(shí)間變化(上表)和紅外熱像圖(下表)。ΔT定義為θv = 60°和θv = 0°或30°的溫度之差。(插圖) SiO2/AlOX (100/100 nm)雙殼HMs和碳帶包覆Si的物體溫度角分布。在θv = 0°時(shí),將紅外熱成像圖像歸一化為碳涂層掩膜的最大強(qiáng)度。(c,d)輻射冷卻實(shí)驗(yàn)。(c)每個(gè)樣品溫度的時(shí)間變化。(上面板)時(shí)變輸入電壓信號(hào)。(d)相對(duì)于裸Si在12、14和16 V時(shí)的溫度還原值。誤差條表示三個(gè)獨(dú)立測量在每個(gè)周期結(jié)束前30秒獲得的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。
END
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