光研科技自主研發的光束質量分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比高，得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。



      Beamfiler 是一款用于Windows 系統的激光光束分析產品，我們將Beamfiler Basic型號的光束質量分析儀重磅推薦給大家。完整產品目錄獲取，咨詢及訂購方式：（電話和微信號碼：15172359028）

Beamfiler Basic型號




　　性能特點：

　　本產品像素大小3.45μm

　　光斑檢測直徑范圍34.5μm~7mm

　　標配磁吸衰減，方便操作，可選更高功率衰減配置，功率范圍可達1000W.

　　支持手動和自動實時曝光及增益調節

　　高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用

　　典型應用：

　　需要對激光光斑形狀進行檢測得場合，如激光生產，維護以及激光應用；

　　光學器件質量檢查；

　　激光腔鏡調整；

　　外光路準直；

　　光纖對準耦合分析等。

       產品參數：


      軟件功能介紹