高速抖動測試實例分析



抖動分類

定義抖動為信號時序事件與其理想位置的偏差。抖動是數據眼圖在時間軸上產生拖尾的原因,任何有損傳輸線的收發器件都有可能產生抖動。目前高速串行系統單通道已達112G之上,所以通道對噪聲有極高的敏感性,即使在前端設計、后端制造中嚴格控制裕量,也難以保證在最后設計出的系統能夠滿足預期的指標要求。因此,在高速串行系統的設計和調試中,抖動成為衡量系統性能的重要指標,從抖動組成中分離并確定系統中存在的影響性能的因素,從而為系統設計和調試提供指導方向和依據。一般抖動的分類如圖1:

高速抖動測試實例分析的圖1

圖1 抖動分類


抖動測試

通常情況,測試抖動均是誤碼率在1E-12下測試,圖2是針對某一通道的抖動測試結果,其中測試包含總抖動、確定性抖動和隨機抖動以及抖動直方圖。下面我們基于此結果,通過抖動分離來分析影響通道的因素。

高速抖動測試實例分析的圖2

圖2 抖動測試圖


抖動分析


01


從圖2觀察:TJ(1E-12)=43.1ps,DJ(δ—δ)=25.3ps,RJ(rms)=1.30ps。其中,TJ為在誤碼率為1E-12下的總抖動;一般描述抖動都會基于某一特定的誤碼率而言,此時:

TJ(BER)=1*UI-Eye_width(BER) (公式1)

因此,通過上面計算,我們可知道圖2下所對應的眼寬為53.9ps(10.3125G速率下);



高速抖動測試實例分析的圖3


02

DJ為利用雙狄拉克模型測試的確定性抖動,該抖動是有界的,且可以用峰峰值來表示;



高速抖動測試實例分析的圖4


03

RJ為無界的隨機性抖動,也是基于1E-12誤碼率的前提所測試的,經查看圖2的RJ(rms)為1.30ps,因此可推斷測試系統對于板子所帶來的抖動影響較小,可排除測試系統因素。

對于RJ來講,它是基于概率密度函數(PDF)的高斯分布,即任何一點的概率都不為0,也就是說信號邊沿偏離理想位置多遠都有可能,區別僅僅在于可能性的大小,所以RJ是無界且無法用峰峰值來表示。有時候為了計算某一誤碼率下總抖動TJ的大小,仍然需要知道在該誤碼率下的RJ峰峰值。對于高斯抖動而言,比較容易獲取到均方根(RMS)值δ,然后可以通過下式將均方根值轉化為特定誤碼率下的峰峰值。

RJP-P(BER)=N·δ(公式2)

其中,N是和誤碼率有關的一個參量,對應關系如表1:

表1 誤碼率與N對應關系

BER

N

10E-3

6.18

10E-4

7.438

10E-5

8.53

10E-6

9.507

10E-7

10.399

10E-8

11.224

10E-9

11.996

10E-10

12.723

10E-11

13.412

10E-12

14.096

10E-13

14.698

10E-14

15.301

10E-15

15.883

10E-16

16.444

對于圖2的實測結果,RJ(rms)=1.30ps,即δ值大小,代入公式2,得到RJ峰峰值:

RJP-P(BER)=14.069*1.30=18.2897ps

一般進行抖動分離研究,都會采用雙狄拉克法,而該方法將抖動粗略的分為確定性抖動和隨機性抖動,因此基于雙狄拉克法的假設,總抖動可用下式描述:

TJ(BER)=DJ+N·δ (公式3)

代入實測的DJ和公式轉換計算的RJ,得到TJ如下:DJ(δ—δ)(25.3ps)+ RJP-P(BER)(18.2897ps)=43.5897ps。

實測TJ為43.1ps,計算結果和實測結果匹配,因此可以證明根據公式2和表1計算RJ峰峰值的方法有效。


高速抖動測試實例分析的圖5

04

對于PJ(δ—δ)而言,由于PJ來源主要有:
01.參考時鐘相位的周期性調制;
02.開關電源的耦合;
03.其他耦合路徑耦合過來的周期性干擾(比如電源噪聲);
圖2中PJ(以PJ(δ—δ)數值為準,因為PJ的rms可能還需轉換)為9.7ps,相對較小,所以推斷PJ所帶來的影響可能小部分來自通道之間的串擾;

高速抖動測試實例分析的圖6

05

對于DCD而言,由于DCD來源主要有:
01.信號上升沿和下降沿不對稱;
02.判決門限偏離理想電壓位置;
所以查看圖2中DCD為800fs,已經很小,且查看所對應的眼圖,如圖3:

高速抖動測試實例分析的圖7

圖3 通道眼圖測試


從圖3判斷,眼圖上升沿/下降沿無不對稱現象,且Crossing在50%左右;上升/下降時間基本一致,所以DCD(800fs)所帶來的影響因素可排除;


高速抖動測試實例分析的圖8

06

對于DDJ(p-p)而言,圖2顯示為20.0ps,相對較大,而DDJ又包含ISI抖動和DCD抖動,通過05分析,可將DCD抖動排除掉,因此DDJ的20.0ps的抖動極大可能來自反射/損耗所帶來的ISI抖動,進而推斷,該10.2135G的通道可能還是回損或者插損較大,即差分阻抗一致性較差以及通道損耗較大。


結論

從上述抖動分析結果來看,導致抖動偏大的原因是阻抗和損耗,這兩個因素會帶來ISI抖動,影響高速通道傳輸性能。損耗可通過更換低損耗板材、高速通道切換最優層等方式優化。而高速通道中任何阻抗不連續的點都有可能帶來反射,需要有針對性地對不連續點進行容性補償或感性補償。

在高速系統設計時利用抖動測試分離技術進行問題定位和分析,可以迅速得到影響通道傳輸性能的主要因素,給設計者提供整改方向,幫助設計者完成產品迭代。

END



高速抖動測試實例分析的圖9

高速抖動測試實例分析的圖10

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