4/27 5nm InFO設計中的PI簽核方法介紹

內容簡介

作為延續和超越摩爾定律的最大“殺手锏”,Chiplets和3DIC等高級封裝已成為當前IC設計的必然趨勢。高級封裝在集成度、性能、功耗、設計自由度等方面帶來的優勢不必贅言,但是同時它也帶了諸多挑戰。例如更高的設計復雜度,分析、驗證和signoff的難度大大提升,同時還需要考慮到噪聲耦合、熱電耦合,機械應力等各項因素。

(1)  使用高精度的 Concurrent flow分析3DIC和Chiplets設計中電源網絡的質量和可靠性,對于從die到interposer再到pkg及整個系統來講都是至關重要的。Concurrent flow不僅考慮了每顆die上shared P/G nets和decap對其他die的影響,同時還會考慮每顆die之間的coupling效應。

(2)    對其中一顆die或其中某些die做快速迭代時,我們使用integrated flow來實現快速的電源完整性分析。它可以把當前不care的一些die進行reduce簡化處理,但是依然會考慮每顆die之間的coupling效應,所以我們care的芯片的分析精度是沒有折損的。

(3)    對于out-sourcing的芯片,vendor一般只提供CPM。我們用CPM based flow來完成整個系統的仿真,把CPM帶進來可以仿真到它對care die的影響(噪聲)。這個flow速度很快,仿真精度也能夠滿足需求,并且對memory和disk 的占用會有大幅度的減少。

 

 

面向受眾

高級封裝(3DIC)SoC設計工程師,SoC電源設計工程師,先進工藝layout設計工程師。

 

 

時間

2022年4月27日(周三)16:00-17:00

 

 

費用

免費

 

 

講師簡介

丁萍|Sanechips

丁萍,Sanechips高級物理設計工程師,專注先進工藝及高級封裝項目的電源完整性設計及仿真,具有豐富的項目經驗和仿真經驗。


點擊報名:https://v.ansys.com.cn/Live/j5Ed1CZe?source=jishulink


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