答：圖像模擬工具通過將源位圖文件與點擴散函數陣列進行卷積來模擬圖像的形成。考慮的效應包括衍射，像差，畸變，相對照度，圖像方向，偏振影響等。此工具有助于可視化所設計光學系統的圖像質量。它提供了一種定性但直接的方法來評估成像系統的性能，并使客戶更容易"看到"模擬的圖像質量。

答：如果您的系統遠未受到衍射限制，您可以使用幾何圖像分析 （GIA）。GIA 使用純幾何光線追蹤，被認為是模擬圖像的"黃金標準"。

但是，如果您的系統受到衍射限制，則需要包括衍射效應。在這種情況下，您應該使用圖像模擬。圖像模擬使用惠更斯PSF與源位圖進行卷積，以考慮衍射效應。

值得注意的是，即使選擇了 "像差：衍射"，如果像差非常嚴重以至于無法準確計算衍射 PSF，分析仍可能自動切換到幾何。有關此內容的討論列在幫助文件中。

答：使用圖像模擬工具時，建議使用視場角或物高來定義【Field Height視場高度】選項。

對有限共軛系統使用"物高"（如下圖所示，這點需要注意），對無限共軛系統可使用"視場角"，因為這些字段類型明確定義了對象在圖像空間中的大小和方向。

當我們采用視場角來定義setting中的Field Height時我們需要注意，具體我們建議查看幫助文件：

幫助文件中概述的使用視場角來定義的主要困難是視場角單位本質上是變形的。

由于無限共軛系統不允許將物高作為定義，因此，如果您仍然希望使用物高來定義此處的Field Height，則可以使系統轉換為有限共軛，方式是可以在前面添加一個近軸透鏡paraxial lens。

答：有關詳細信息，請參閱幫助文檔、上述研討會和知識庫文章的說明。下面我們強調下看到用戶問得最多的一些設置：

1. Oversampling vs Guard band 過采樣與安全寬度

它們都可以提高源位圖的分辨率，或者換句話說，它們使用了不同的方法來達到增加單位視場對應像素數的目的。

過采樣通過將一個像素復制成 2 個、4 個或更多相同的相鄰像素，增加光源位圖的像素分辨率，而安全寬度則通過重復倍增像素數，增加光源位圖的像素分辨率，從而使原始圖像周圍出現黑色"安全寬度"。

當源位圖具有低像素分辨率時，可以使用這兩個選項; 如果點擴散函數與光源位圖視場尺寸相比較大，則此功能特別有用。

2.Wavelength波長

如果選擇“RGB”，則定義3 個波長，分別為紅色波長定義0.606 微米、綠色波長 0.535 微米 和藍色波長 0.465 微米；不管當前波長定義如何，都是如此。如果選擇“1+2+3”，則使用波長數據 欄中當前定義的波長 1、2 和 3。對波長 3 使用光源位圖的紅色通道，對波長 2 使用綠色通道，對 波長 1 使用藍色通道。無論使用此選項定義的波長為多少，顯示的圖像都將為 RGB 格式。

3.Aberrations像差

當系統有衍射限制時，選擇衍射，惠更斯PSF用于卷積。當系統以幾何像差為主時，選擇"幾何"作為像差。

4.PSF X/Y點

PSF X/Y 點指定圖像仿真在整個視野中計算的 PSF 函數數，并將其用于與源圖像的卷積。對于這些格點之間的視場點，將使用插值 PSF。

根據系統視場范圍內的性能變化相應地調整此數字。例如，如果您的PSF函數在整個視場范圍內非常穩定，則可以使用較小的數字;但是，如果 PSF 大小從軸上到軸外變化很大，則應使用較高的 PSF 點。換句話說，整個視場內的性能變化越大，就越需要更多的PSF點來準確模擬結果。
很難說應該使用一個明確的數字，但我們建議從低數字開始，比如3x3或5x5，并查看PSF網格，看看從中心到邊緣的PSF大小變化有多大。您選擇的 PSF 點數將對最終的模擬圖像產生影響，這意味著您使用的 PSF 點越高，結果越準確，但這將以更長的計算時間為代價。因此，請根據系統視場范圍內的 PSF 性能變化相應地選擇此數字。
例如，下面我們將 PSF X/Y 點設置為 9x9，您可以清楚地看到 PSF 函數從中心到邊緣的變化。這意味著最終的模擬圖像的邊緣更加模糊，因為源圖像將使用更大的點擴散函數進行卷積。在這樣的系統中，選擇 3x3 PSF 網格可能不足以準確模擬整個視場內的性能變化。較高的 PSF 點有助于獲得更準確的結果。

5.X/Y 像素和像素大小

這允許您在模擬圖像中包含探測器像素分辨率的影響仿真以便您了解系統是否受到探測器分辨率的限制。

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