天津理工《JHM》:通過晶體結(jié)構(gòu)調(diào)控提升雙鈣鈦礦的發(fā)光性能!















鹵化鉛鈣鈦礦中鉛的毒性問題對(duì)生態(tài)環(huán)境和人類健康造成潛在危害,這引起了世界各國的廣泛關(guān)注。無鉛雙鈣鈦礦 Cs 2 AgInCl 6 因其穩(wěn)定性好、載流子壽命長、易于加工并具有直接帶隙等優(yōu)點(diǎn)被認(rèn)為是非常有潛力的替代材料。但 Cs 2 AgInCl 6 目前還存在以下幾點(diǎn)問題:受到奇偶禁戒躍遷的限制,發(fā)光效率不夠高,穩(wěn)定性還不足以達(dá)到實(shí)際商業(yè)應(yīng)用水平。

日前, 提出利用SiO2對(duì)Cs2AgInCl6進(jìn)行結(jié)構(gòu)調(diào)整,以此方式來提高其發(fā)光強(qiáng)度和穩(wěn)定性。 SiO 2 改變了 Cs 2 AgInCl 6 的生長方式和晶體形貌,從八面體變成截塔八面體。結(jié)構(gòu)改變后,晶胞分散,突破吸收極限, SiO 2 還鈍化了材料表面,形成抗氧化保護(hù)膜。因此,光致發(fā)光的發(fā)射強(qiáng)度提高了 181.5% ,穩(wěn)定性提高了 83.11% 。此外,還發(fā)現(xiàn)了 Cs 2 AgInCl 6 在低溫下( 20 K )的一種新的雙發(fā)射現(xiàn)象( λ ex =365 nm λ em ≈580 nm λ ex =325 nm λ em ≈505 nm );這一現(xiàn)象解釋了 Cs 2 AgInCl 6 在室溫下 400-450 nm 的肩狀發(fā)射問題,闡明了其發(fā)光機(jī)理。相關(guān)論文以題為“ Novel Cryogenic Dual-Emission Mechanism Of Lead-Free Double Perovskite Cs 2 AgInCl 6  and Using SiO 2  To Enhance their Photoluminescence And Photostability ”發(fā)表在Journal of Hazardous Materials。文章通訊作者為張曉松,第一作者為鞏梟凱。
 
論文鏈接:
https://doi.org/10.1016/j.jhazmat.2020.123821

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Cs2AgInCl6是一種很有前途的白光照明材料,它存在自陷激子(STE)、局部載流子和軟晶格等特性,可以發(fā)射400-800 nm的寬光譜。然而,由于其反轉(zhuǎn)對(duì)稱,奇偶禁入躍遷的形成已經(jīng)被證明[74]STE和禁帶的轉(zhuǎn)換使得Cs2AgInCl6PLQY非常低,從而阻礙了它的商業(yè)發(fā)展。因此,許多研究的目標(biāo)是提高其整體發(fā)光性能。目前,一般通過摻雜Na+Bi3+離子來改變Cs2AgInCl6的對(duì)稱性來打破奇偶禁入躍遷的禁戒,從而提高PLQY。在Cs2AgInCl6晶格中加入Na+和少量Bi3+離子,可以降低體系的晶體對(duì)稱性,有助于實(shí)現(xiàn)奇偶性變化。然而,上述方法并沒有解決晶格缺陷的問題。與支持商業(yè)應(yīng)用相比,基于Cs2AgInCl6的產(chǎn)品的穩(wěn)定性必須提高。

調(diào)整材料的結(jié)構(gòu)是用于提高發(fā)光材料穩(wěn)定性的常用方法,例如用Al2O3包覆一些發(fā)光材料,可以提高其抗輻射能力;通過涂覆TiO2可以提高發(fā)光材料的抗氧化能力;在量子點(diǎn)表面包覆SiO2可以提高其在潮濕環(huán)境中的穩(wěn)定性。從實(shí)際考慮,需要一種既能提高Cs2AgInCl6的發(fā)射強(qiáng)度又能提高其穩(wěn)定性的方法,SiO2已經(jīng)被證明可以滿足這些要求。在穩(wěn)定性方面,SiO2納米顆粒可以修飾晶體缺陷和鈍化晶體表面。注意,SiO2形成的保護(hù)層可以防止材料被氧化,阻止水和氧的侵蝕。對(duì)于高效的光發(fā)射,SiO2納米顆粒可以防止量子點(diǎn)聚集。此外,結(jié)構(gòu)的改變可能會(huì)影響材料的發(fā)光機(jī)制。本文探討了外部環(huán)境對(duì)材料穩(wěn)定性和結(jié)構(gòu)的影響,了解了不受聲子能量影響下的發(fā)光機(jī)理,即低溫(<80K)材料的發(fā)光機(jī)理與結(jié)構(gòu)變化的關(guān)系。

這項(xiàng)工作中,作者利用無機(jī)材料(SiO2)以限制材料晶體結(jié)構(gòu)的方式來調(diào)節(jié)Cs2AgInCl6的發(fā)光強(qiáng)度,之后再進(jìn)一步確定這種結(jié)構(gòu)調(diào)整是否可以同時(shí)提高材料的穩(wěn)定性和發(fā)光強(qiáng)度。并重點(diǎn)了解了結(jié)構(gòu)調(diào)整提高穩(wěn)定性和發(fā)光強(qiáng)度后,80 K以下時(shí)發(fā)光機(jī)理的變化。


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1.a)生長3 s30 min以及添加SiO22 ml TEOS)后的XRD;(b)生長3 s后的Cs2AgInCl6;(c)生長30 min后的Cs2AgInCl630 min),(d)反應(yīng)3 s后添加SiO2Cs2AgInCl63 s/SiO2,(e)反應(yīng)30 min后添加的SiO2。(f Cs2AgInCl6在不同生長過程中的XRD圖譜以及(gCs2AgInCl63s),(hCs2AgInCl63s/H2O & Ethanol TEOS 0ml),(iCs2AgInCl63s/SiO2TEOS 0.5 mL)和(jCs2AgInCl63s/SiO2TEOS 2 mL)的SEM成像。


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2.SiO2影響的晶體演化過程示意圖


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3.不同制備條件下產(chǎn)物的吸收光譜和熒光光譜:不同生長時(shí)間(3 s30 min)下以及分別與SiO2混合的(a)吸收光譜和(b)熒光光譜(使用365 nm的激發(fā)波長);分別加入H2O和乙醇以及0.5 mL2 mL正硅酸乙酯后,生長時(shí)間為3 s下的(c)吸收光譜和(d)熒光光譜(使用365 nm的激發(fā)波長)。

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4.Cs2AgInCl63 s/SiO2粉末、Cs2AgInCl630 min)粉末和CsPbBr3粉末在空氣等離子體轟擊下的穩(wěn)定性。


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5.a)由365 nm光源激發(fā)的Cs2AgInCl63 s/SiO2,(b)由325 nm光源激發(fā)的Cs2AgInCl63 s/SiO2的溫度依賴性PL光譜。
 
在研究中,作者通過利用SiO2參與Cs2AgInCl6的晶體生長過程,合成了截塔八面體Cs2AgInCl6。測定的吸收光譜結(jié)果表明,Cs2AgInCl6/SiO2相比Cs2AgInCl6的吸收性能有所提高。SiO2是通過調(diào)節(jié)Cs2AgInCl6的晶體結(jié)構(gòu)來改變晶體排列,從而限制晶體生長,分散晶體單元,打破吸收和發(fā)射的限制。使用SiO2可使PL發(fā)射強(qiáng)度增加181.5%。此外,與純Cs2AgInCl6相比,Cs2AgInCl6/ SiO2具有更好的抗氧化和抗離子性損傷的能力。SiO2參與了Cs2AgInCl6晶體的生長,但不改變晶體內(nèi)部的晶包結(jié)構(gòu),也不改變晶體的本征的發(fā)光機(jī)制。變溫PL證明白光發(fā)射主要來源于STEs。發(fā)現(xiàn)了Cs2AgInCl6Cs2AgInCl6/SiO2在低溫下(80 K以下)的一種新的雙發(fā)射現(xiàn)象(λex=365 nmλem≈580 nmλex=325 nmλem≈505 nm)及其發(fā)射機(jī)制。

綜上所述,雙功能材料SiO2實(shí)現(xiàn)了在結(jié)構(gòu)上對(duì)Cs2AgInCl6進(jìn)行了調(diào)整,提高其發(fā)光強(qiáng)度以及發(fā)光穩(wěn)定性。該策略為改進(jìn)Cs2AgInCl6的發(fā)光性能提供了新的參考。證明了Cs2AgInCl6在低溫下的雙發(fā)射特性,進(jìn)一步為Cs2AgInCl6的發(fā)光機(jī)理提供了新的認(rèn)識(shí)。

*感謝論文作者團(tuán)隊(duì)對(duì)本文的大力支持。

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