這個GaN技術牛!8英寸、2DEG提升20%

最近, 空氣水集團(AIR WATER) 官網宣布,其創新的 GaN技術 獲得了2021年度“半導體電子材料類大獎”。

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據介紹,該公司是全球首家量產GaN-on-SiC-on-Si層疊結構器件的企業。即使采用廉價的硅襯底,該結構的2DEG依舊可以達到2110 cm2/V-s ,相比硅基GaN提升了20%,很好地解決SiC基GaN成本高、硅基GaN性能差等問題,大幅降低GaN器件成本,從而有望加速5G通信的普及。

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成本太高、性能太差

傳統結構挑戰多多

眾所周知,GaN器件具備高功率密度和高電子飽和速度等優點,因此在射頻、微波和毫米波應用領域非常有競爭力但是GaN器件要打入這些領域還存在多重挑戰。

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首先,碳化硅和氮化鎵襯底生產成本太高,盡管SiC襯底GaN高頻晶體管已經投入實際應用,但僅限于高端基站使用,很難進行廣泛商業化。

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其次,雖然硅襯底GaN器件具有潛力,6英寸硅襯底GaN高頻晶體管的開發和商業化也取得了 一定的進展。但由于存在高熱失配(33%) 和晶格失配(17%) ,因此很難在硅襯底上生長高質量、無裂紋的GaN外延層,導致晶體管在工作過程中一旦發熱,絕緣性能會變差,能量損失會增加。

還有,硅基GaN器件還存在硅襯底電阻率低的問題,這會帶來高寄生電容,從而阻礙器件的高頻性能。

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GaN結構

提高質量、減少泄漏

為此, 2004 空氣水集團開始創建一種 GaN結構技術。

該結構是這樣的:首先,采用廉價的硅襯底;其次,使用獨特的成膜技術,在硅襯底上生長高質量的3C-SiC薄膜;然后,在SiC薄膜上依次生長2 μm的含鋁III-N緩沖層、6μm的GaN層,和23 nm 的AlGaN勢壘

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該公司認為,在GaN和硅襯底之間引入穩定的3C-SiC中間層,這樣可以抑制裂紋產生,并提高硅襯底的GaN薄膜的晶體質量。

而厚厚的氮化物層能夠抑制由硅襯底低電阻率產生的寄生效應,而緩沖層可以最大限度地減少RF泄漏。

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據介紹,2012年,該公司就開發了大直徑(最大直徑8英寸)的硅基SiC。2013年4月它在日長野縣建立了中試工廠。2020年4月開始試產硅基SiC襯底,以及基于該襯底的GaN高頻器件。

GaN結構

提高質量、減少泄漏

相比硅襯底,基于3C-SiC的GaN器件電子遷移率提高約20%,而且SiC薄膜具有高導熱性,因此也提高了晶體管的散熱性能。該GaN器件的2DEG達到2110 cm2/V-s,薄層電阻為280 Ω /□。

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對于柵極長度(Lg )為2 μm、柵極寬度為2×50μm的器件,其小信號特性實現了4.8 GHz 的截止頻率。而且在高達125 ℃高溫下,其射頻泄漏也非常低

在室溫下,該器件實現了47%的PAE,同時提供了2 W/mm的輸出功率,以及17.2 dB的最大線性增益,漏極和柵極偏置分別為+22.5和-1.5 V。

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