5/12 | Ansys電子結(jié)構(gòu)可靠性產(chǎn)品更新

5/12 | Ansys電子結(jié)構(gòu)可靠性產(chǎn)品更新的圖1

近年以來(lái),電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)可靠性要求越來(lái)越高,Ansys 也在不斷提升芯片、封裝、PCB等電子產(chǎn)品的建模及分析功能。本次更新主要在sherlock和mechanical的集成,API開(kāi)放以及trace 增強(qiáng)單元的更新等;同時(shí)在Ansys AEDT 電子桌面中加入結(jié)構(gòu)求解功能;LS-DYNA中可以使用trace mapping等。以上功能都在讓電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)可靠性分析更快捷更準(zhǔn)確。

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主題/時(shí)間


Ansys電子結(jié)構(gòu)可靠性產(chǎn)品更新
5月12日16:00

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講師介紹


徐志敏

Ansys結(jié)構(gòu)高級(jí)應(yīng)用工程師。在電子行業(yè)尤其PCB及封裝結(jié)構(gòu)產(chǎn)品可靠性有豐富設(shè)計(jì)仿真經(jīng)驗(yàn),負(fù)責(zé)Ansys中國(guó)CPS結(jié)構(gòu)可靠性方案以及Ansys Sherlock國(guó)內(nèi)技術(shù)支持;長(zhǎng)期支持國(guó)內(nèi)大型半導(dǎo)體、封裝、通訊企業(yè)的仿真設(shè)計(jì)工作。

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