花1100+萬轉讓技術,汽車級SiC MOSFET新玩家來了!

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4月21日,YES Power Technix宣布與韓國電子技術研究院(KERI)達成技術轉讓協議,將耗資 20億韓元1163人民幣), 獲取 KERI的SiC MOSFET 溝槽結構 )技術。

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Yes Power公司 CTO Eun-ikik Jeong說: “采用轉讓技術的溝槽mosfet產品將在今年推出,并向電動汽車和家用電器客戶進行展示。

據介紹,KERI為Yes Power提供了一套全面的技術包,其中包括用于產品商業化的各種測量和分析技術,以及用于開發“溝槽結構SiC MOSFET”的原始技術。從設備購買到大規模生產線建設,KERI將提供全程幫助。

2014年就轉讓SiC技術

檢測設備比日本便宜一半

這次轉讓公告提到了 2個關鍵信息,一是KERI的SiC MOSFET,二是相關檢測分析技術。
2014年6月,KERI曾介紹了他們開發的1200V/40A高壓SiC MOSFET器件,其中提到,最大擊穿電壓超1700V,導通電阻特性小于 55mΩ2 ,電流密度為 187A /2 獲取相關PDF,請發送私信“韓國”,或添加助手微信(hagnjiashuo666)
當時, KERI就表示,已經將碳化硅 設計和制造技術轉讓給半導體公司 我們 猜測就是轉讓給 YES POWER

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檢測技術方面,今年3月,KERI宣布,他們已經開發了一種劃時代的技術,可以在早期階段分析和評估碳化硅材料中的缺陷。

KERI稱,碳化硅材料檢測設備具有很高的技術難度和進入壁壘,目前日本占據了世界市場的80%以上,而現在KERI的檢測產品已經開始量產,成本僅為日本的一半,日本設備價格為14億韓元(約813萬人民幣)

據介紹,KERI開發了利用光致發光現象檢測SiC材料缺陷的技術,原理是通過將紫外線能量傳輸到SiC材料,來分析電子發射的特定波長,以確定是否存在晶體缺陷。這種缺陷分析儀是KERI與光學檢查設備專業制造商Etamax進行合作開發的。

相比之下,日本檢測設備是根據檢查目標和評估項目,選擇兩種不同波長的光,來檢測表面和內部缺陷,而KERI設備可以檢查各種內部缺陷。 

1月份被收購33.6%股份

碳化硅年產能1.44萬片

YEST集團于2017年12月成立YES POWER TECHNIX今年1月28日,SK集團以268億韓元(約1.59億人民幣)收購了Yes Power Technix公司33.6%股權。


“三代半風向”了解,2017年10月YEST集團就完成SiC SBD SET評估和可靠性評估2018年7月建立韓國首SiC功率半導體生產線


2019年YES開發1700V碳化硅MOSFET和4500V碳化硅MOSFET。目前,YES POWER TECHNIX是韓國唯一擁有高溫工藝生產線的SiC制造商,其浦項工廠的SiC晶片年產量最多可達到14400片。

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YES POWER TECHNIX生產線

KERI從2000年就開始研發碳化硅技術,截至2014年KERI的技術路線圖如下↓↓↓↓ 

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