【Ansys線(xiàn)上直播回看】先進(jìn)芯片設(shè)計(jì)中熱效應(yīng)的可靠性分析

『點(diǎn)擊觀(guān)看直播回放』


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在先進(jìn)工藝下,隨著芯片規(guī)模與功耗密度的提高,考慮熱效應(yīng)的可靠性分析成為了Sign-off標(biāo)準(zhǔn)的一環(huán)。Ansys通過(guò)先進(jìn)的熱模型提供芯片,封裝和系統(tǒng)聯(lián)合的熱分析方案,Ansys已經(jīng)與各大主流Foundry合作,在熱分析領(lǐng)域處于行業(yè)領(lǐng)先地位。

此次網(wǎng)絡(luò)直播吸引了眾多觀(guān)眾在線(xiàn)觀(guān)看,在會(huì)后我們也陸續(xù)收到在線(xiàn)觀(guān)眾以及其他用戶(hù)前來(lái)詢(xún)問(wèn),在此附上本場(chǎng)網(wǎng)絡(luò)直播錄播內(nèi)容,供大家回看學(xué)習(xí)。


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