借助于錐光干涉圖可以測量晶體的光軸方向和雙折射率等。一般的做法是需要將繁雜的干涉場理論計算付諸于自行編程才能得到模擬結(jié)果， 程序代碼復(fù)雜。但是， 如果借助于已經(jīng)經(jīng)過時間證實且成為工業(yè)界標準的、可進行散射效應(yīng)、衍射效應(yīng)、反射效應(yīng)、折射效應(yīng)、光吸收效應(yīng)、 偏振光效應(yīng)和高斯光束傳導(dǎo)等光學(xué)仿真分析的高級系統(tǒng)分析程序 (Advanced System Analysis Program ， ASAP)， 通過編寫和運行簡單的 ASAP 命令腳本來模擬單軸晶體錐光干涉的方法，將更為快捷和準確。

最新版本V7版本的主要特性之一：

通過ASAP能夠模擬出任意光軸取向及各種參數(shù)條件下的單軸晶體錐光干涉圖，這是一種程序易編、參數(shù)易調(diào)、結(jié)果即時呈現(xiàn)的行之有效的方法。 只需更改相應(yīng)命令語句中的數(shù)值，就能實現(xiàn)對晶體光軸方向、光束發(fā)散角、晶體厚度、入射波長以及起、檢偏器夾角等參數(shù)的更改， 方便快捷地 (從運行到給出結(jié)果，整個過程不足 10 s) 獲得不同參數(shù)條件下的各種錐光干涉圖，并據(jù)此分析錐光干涉圖樣的特征及其變化規(guī)律。

來自：ASAP 光學(xué)設(shè)計軟件